样品与前置条件
- 低变形、无污染且足够平整的表面
- 相库与可能物相预先定义
- 样品方向和坐标系清楚标记
建议工作流
- 校准探测器几何和花样中心
- 根据最小晶粒选择步长和视场
- 保存原始花样或代表性花样
- 检查索引率、花样质量与相混淆
- 记录清理规则后计算晶界、织构与局部取向指标
结果怎么解释
- IPF 颜色只有结合参考方向才有意义
- 晶界分类依赖错配角和晶体对称性
- KAM 等指标是局部取向梯度代理，不等同于直接位错密度
局限与常见误区
- 表面变形层会显著降低索引质量
- 空间分辨率和可索引性随材料与加速电压变化
- 过度数据清理可能删除真实微小特征
标准与权威来源
请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。