表面分析
XPS 表面化学：能回答什么，不能回答什么
从信息深度、充电、能量校准和峰拟合理解表面元素与化学态分析的可信边界。
先记住这三点
- XPS 通常只代表近表面数纳米
- 充电校正必须说明依据
- 峰拟合约束应具物理与化学意义
表面敏感性
光电子在固体中的非弹性散射限制了信息深度，因此 XPS 常表征近表面而非体相。粗糙度、覆盖层和取样角度都会改变有效信息深度。
采集与校准
先获取 survey 谱判断元素，再采集高分辨区域。绝缘样品的差分充电会移动或展宽峰，能量校准和电荷补偿方法必须记录。
拟合与定量
背景、峰形、峰宽与自旋轨道约束应预先定义。避免用过多峰降低残差却失去物理意义；定量还需说明灵敏度因子、透射函数和不确定度。
来源与延伸阅读
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