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01

样品与前置条件

  1. 保存材料批次、形变与时效记录，避免样品制备改变偏聚状态。
  2. 使用关联 SEM/TEM 定位目标区域，记录针尖制备和坐标转换。
  3. 准备同状态背景、多个针尖和必要的未时效对照。
02

建议工作流

  1. 提出位错偏聚、析出或界面富集等竞争假设。
  2. 在可行条件下先表征针尖中的位错位置与方向。
  3. 记录脉冲模式、温度、检测率、质谱峰分配及运行异常。
  4. 重建原子分布并检查参数敏感性、局部放大和轨迹偏差。
  5. 围绕候选缺陷定义分析体积，给出浓度剖面、背景与计数误差。
  6. 比较多个位置与样品，将化学分布和结构定位对应。
  7. 若讨论气团钉扎，再加入匹配状态的时效与力学证据。
03

结果怎么解释

  1. 富集支持局部分配或结合，不能单独测出解钉扎应力。
  2. 氢分析还需特别区分背景来源与样品氢，普通谱峰不能独立解决该问题。
  3. 报告重建结果与不可唯一确定的结构，不将推断写成直接成像。
04

局限与常见误区

  1. 分析体积小且制样选择性强。
  2. 轨迹重叠、检测效率与重建假设影响定量。
  3. 原子探针和 TEM 的配准误差可能改变缺陷归属。

标准与权威来源

请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。