阅读设置
01

样品与前置条件

  1. 使用低损伤表面并保留原始花样，确定相与坐标系。
  2. 依据目标梯度尺度与角度噪声选步长，安排重复扫描或步长对照。
  3. HR-EBSD 记录参考点、探测器几何和花样质量，避免跨相直接互相关。
02

建议工作流

  1. 保存索引参数、置信指标、晶界和坏点掩膜。
  2. 检查未经平滑的原图，再记录每次去噪、插值和邻域选择。
  3. 将取向／畸变导数统一到样品坐标，说明弧度和长度单位。
  4. 构造可测曲率与 Nye 张量分量，明确正负、转置和缺失导数约定。
  5. 列出允许的 b 与线性格，采用明确的 L1／能量或其他准则估计 GND。
  6. 比较参考、步长、平滑及位错系选择的敏感性，估计噪声下限。
  7. 以 TEM/ECCI 或其他数据互证，按可测分量与模型范围报告结果。
03

结果怎么解释

  1. 同分辨率下的相反位错可能抵消，不产生净曲率。
  2. 较小步长会同时改变空间采样与取向噪声导数，不能自动提高密度可信度。
  3. 只报告 KAM 时，应保持其取向差单位并避免直接标成 m⁻²。
04

局限与常见误区

  1. 二维扫描缺少法向空间导数，分解通常欠定。
  2. 大旋转、花样重映射与参考点误差会影响 HR-EBSD。
  3. 不同软件的张量约定需核对，不能仅比较同名彩色云图。

标准与权威来源

请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。

J. F. Nye (1953) · Some geometrical relations in dislocated crystalsActa Metallurgica 1, 153–162。用张量联系晶格曲率与位错分布，为 GND 分析提供几何基础。W. Pantleon (2008) · Resolving the geometrically necessary dislocation content by conventional electron backscattering diffractionScripta Materialia 58, 994–997。由二维 EBSD 不完整曲率信息约束几何必需位错含量。A. J. Wilkinson, G. Meaden, D. J. Dingley (2006) · High-resolution elastic strain measurement from electron backscatter diffraction patterns: New levels of sensitivityUltramicroscopy 106, 307–313。用衍射花样互相关提高弹性应变和晶格转动测量灵敏度。MTEX 官方文档 · Geometrically Necessary Dislocations从晶格曲率到位错密度张量与 GND 拟合的可复核流程；二维数据存在缺失导数。