阅读设置
样品与前置条件
- 记录取样位置、批次、制备与环境暴露，保证样品有代表性。
- 选择适合材料的研磨和装样方式，避免研磨诱发相变、污染或强取向。
- 块体和薄膜记录测量表面与方向；粉末透射记录容器、装填与旋转方式。
建议工作流
- 定义候选相、弱峰要求和所需角度范围，选择射线与几何。
- 检查仪器标定、背景和样品位置，保存标样记录。
- 测空容器或基底，并采集足够角度范围的样品谱。
- 检查异常点、饱和、织构和峰重叠，保留原始计数。
- 按元素和工艺信息检索候选，记录数据库版本、条目与原文。
- 用多条反射和整谱核查候选，标记未解释峰；必要时重复制样。
- 需要定量时转入经验证的强度模型或精修流程，报告限制和原始文件。
结果怎么解释
- 峰位偏差先核对波长、零点和样品位移，再讨论晶胞变化。
- 强度偏差可来自织构和吸收，不能全部归因于含量。
- 对高度重叠的候选保留不确定性，安排互补测量。
局限与常见误区
- 低含量相、非晶和强重叠可能难以可靠识别。
- 表面和粉末采样未必代表构件整体。
- 数据库可能不包含目标结构，检索无匹配不代表数据无效。
标准与权威来源
请在正式试验前核对适用产品标准、设备 SOP 和标准的现行版本。